Intel執(zhí)行副總裁兼數(shù)據(jù)中心事業(yè)部總經(jīng)理孫納頤(Navin Shenoy)今天就Spectre幽靈、Meltdown熔斷兩個(gè)漏洞的修復(fù)進(jìn)展做了最新通告，并首次披露了Intel在數(shù)據(jù)中心方面對(duì)于打補(bǔ)丁前后性能變化的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)。
目前，Intel已經(jīng)發(fā)布的固件更新覆蓋了Intel過(guò)去五年內(nèi)推出的90％ CPU，后續(xù)仍會(huì)繼續(xù)擴(kuò)大覆蓋范圍。
對(duì)于部分客戶(hù)反饋的更新固件后重啟次數(shù)增多，Intel已發(fā)現(xiàn)其它產(chǎn)品在某些配置下會(huì)有類(lèi)似情況發(fā)生，涉及二代酷睿Sandy Bridge、三代酷睿Ivy Bridge、六代酷睿Skylake、七代酷睿Kaby Lake等平臺(tái)。
Intel內(nèi)部已經(jīng)可以復(fù)現(xiàn)此問(wèn)題，并在確定問(wèn)題的根本原因方面取得進(jìn)展，下周將向廠(chǎng)商提供Beta版微代碼以供驗(yàn)證。
需要了解更多詳情的可以前往Intel.com安全中心獲取，Intel也會(huì)繼續(xù)即時(shí)公布相關(guān)進(jìn)展。
另一方面，Intel 1月10日提供了針對(duì)消費(fèi)級(jí)客戶(hù)端系統(tǒng)性能測(cè)試的初步結(jié)果，現(xiàn)在公布了有關(guān)數(shù)據(jù)中心性能測(cè)試的初步結(jié)果，首批來(lái)自Skylake架構(gòu)的雙路Xeon Scalable至強(qiáng)可擴(kuò)展平臺(tái)。
正如預(yù)測(cè)，測(cè)試結(jié)果表明，打補(bǔ)丁后的性能變化取決于具體的工作負(fù)載和配置。通常來(lái)說(shuō)，涉及大量用戶(hù)權(quán)限和內(nèi)核權(quán)限切換，并且大量時(shí)間處于內(nèi)核權(quán)限模式下的工作負(fù)載，將受到更大的影響。
目前的具體結(jié)果如下：
－ 根據(jù)基于Linpack、STREAM、服務(wù)器端Java和能效基準(zhǔn)等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的基準(zhǔn)測(cè)試，整數(shù)和浮點(diǎn)運(yùn)算吞吐量所受到的影響在0-2％范圍內(nèi)。這些基準(zhǔn)測(cè)試代表了對(duì)企業(yè)和云計(jì)算用戶(hù)很重要的一些常見(jiàn)工作負(fù)載。
－ 一項(xiàng)模擬證券經(jīng)紀(jì)公司的客戶(hù)-經(jīng)紀(jì)人-股票之間彼此交互的聯(lián)機(jī)事務(wù)處理(OLTP)數(shù)據(jù)庫(kù)基準(zhǔn)測(cè)試顯示，性能受到4％的影響。更多分析測(cè)試正在進(jìn)行中。
－ 基于存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果亦呈現(xiàn)多樣性，且取決于具體測(cè)試基準(zhǔn)、測(cè)試設(shè)置和系統(tǒng)配置：
首先，對(duì)于Flexible IO（模擬不同類(lèi)型的I/O負(fù)載的基準(zhǔn)測(cè)試），結(jié)果取決于很多因素，包括讀取/寫(xiě)入組合、區(qū)塊大小、驅(qū)動(dòng)器類(lèi)型和CPU利用率。
100％寫(xiě)入CPU壓力測(cè)試中，吞吐量性能下降了18％，因?yàn)檫@時(shí)沒(méi)有CPU利用率余量。
70％讀取、30％寫(xiě)入混合模式中，吞吐量性能下降了2％。
100％讀取時(shí)，也就是常見(jiàn)的存儲(chǔ)自動(dòng)配置（storage provisioning），本來(lái)較低的CPU利用率提升了，但對(duì)吞吐量性能無(wú)影響。
其次，對(duì)于存儲(chǔ)性能開(kāi)發(fā)工具包（SPDK），即為編寫(xiě)高性能、可擴(kuò)展、用戶(hù)模式存儲(chǔ)應(yīng)用提供一套工具和函數(shù)庫(kù)的場(chǎng)景，已在多種測(cè)試配置下進(jìn)行測(cè)試。
其中，在處理器單核上運(yùn)行，SPDK iSCSI性能損失達(dá)25％，SPDK vHost無(wú)影響。
Intel表示，在性能影響較大的領(lǐng)域，正與合作伙伴和用戶(hù)一起努力解決，已有影響更小的其他緩解措施。
后續(xù)，Intel會(huì)繼續(xù)公布相關(guān)進(jìn)展信息，包括在其它舊平臺(tái)上的更多性能數(shù)據(jù)。
